오주한카


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삼성전자 반도체 사업부에서 채용관련 연락을 받고 게시판에 공지합니다.

관심있으신 분들은 밑에 내용을 참고하시기 바랍니다.


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안녕하세요.
Technology를 선도하는 삼성전자 반도체사업부 메모리담당 채용담당자 신홍진입니다.
다음과 같이 반도체 및 관련 전공자 분들을 모시고자 합니다.

                               - 다        음 -

1. 모집대상 : 박사학위 기취득자 및 '11~'12년 학위취득 예정자

2. 지원방법
○ 지원기간 : ~ 10월 15일(금)
○ 지원방법 : hongjin.shin@samsung.com 으로 이력서 접수

3. 모집분야

● Hardware Design
   - DRAM(DDR/Mobile/Graphic), Flash memory(Nor/Nand), PRAM, Analog & Digital Circuit
   - Memory Card Controller : RTL Coding, Synthesis, Static Timing Analysis,
     AMBA-based bus protocol & ARM-based SoC chip design, DFT Implementation
     SATA, SAS, PCIe, USB2.0/3.0, SD/MMC interface,
     ARM-based embedded SW development & HW validation,
     System Verilog Verification, FPGA Implementation & Verification,
     Signal Processing Algorithm Development for Memory & Storage System,
     Channel Codes(Error Detection/Correction Codes) Design & HW/FW IP Design
● Software Design
   System SW, Computer Architecture, Memory & Storage Algorithm Design,
   FTL, Flash Memory File System, Journaling File System Design,
   Virtual Memory Management, Cache Algorithm, Dynamic Memory Management Development,
   Application Processor, Multimedia Processor, Memory Card Controller F/W,
   Inter-Processor Communication Algorithm Design,
   Parallel Processing Algorithm for SMP/AMP multi-Processor,
   HW & SW Performance Trade-off, SW Engineering,
   Embedded System Test, Test Case Design, Dependability, Fault Tolerant System Test
   Embedded System Development Process, Performance Analysis, OS, I/O System, Storage System,
   Infra(Clear Case, Clear Quest, Test Automation Tool)
● Device Process
   Oxidation, Photo Resist, Photolithography, Etch, Diffusion, Cleaning, Thin Film,
   Ion Impantation, CVD, Metallization, Device Isolation, Transistor, Capacitor,
   Dielectric, SiO2/SiON Gate Dielectrics, High-K/Metal Gate, Device Analysis
● Manufacturing Technology
   - Yield Enhancement: Defect Reduction, Contamination Evaluation Technology,
     Particle Detection, Gas Impurity Evaluation Technology, Surface/Chemical
     Analysis Technology, Contamination Technology
   - Metrology:Pattern Process Inspection, Critical Dimension Measurement
● Quality & Reliability Engineering for Semiconductor
   Accelerated Life/Degradation Test Modeling &Analysis,
   System/Software Reliability & Warranty Engineering,
   Virtual Metrology & APC (Advanced Process Control) Modeling,
   Multi-Stage SPC (Statistical Process Control) and/or DOE (Design of Experiment),
   Multivariate Modeling & Analysis (include Data Mining Methodology),
   Sampling & Measurement Risk Modeling under Automated Dispatching System
● Reliability Technology for Semiconductor
   Device Reliability(DRAM, Flash), Advanced Gate Stack Reliability,
   Novel Device Reliability(PCM, MRAM, etc), Device Characterization and Reliability Modeling,
   Design-In Reliability, Interconnect Reliability, Electro-migration, Stress-migration,
   BTS (Bias Temperature Stress), 3D interconnect, Thin Film Stress analysis,
   Novel Materials for Interconnects Circuit Reliability, Failure Analysis & Life Time Projection ,
   Package level reliability, Solder joint reliability, Board level reliability

4. 기타
○ 이력서 검토 후에 개별적으로 연락을 드리겠으며, 10월말~11월초에 현지면접을 진행할 예정입니다.
  세부일정 및 장소에 대해서는 추후에 자세히 안내해 드리겠습니다.
○ 궁금하신 사항은 언제든지 문의주시기 바랍니다.
   - 담당자 : 신홍진(hongjin.shin@samsung.com, +82-31-208-6062)


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